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高光谱成像仪眩光测试系统

更新时间:2021-06-16

简要描述:

高光谱成像仪眩光测试系统
测试UGR 针对室内室外眩光值
GR 针对体育场、球场眩光值
电控云台180°旋转测量
230万像素面阵CMOS传感器
亮度误差±5%
亮度范围0.001-2000-200000-20000000cd/m2

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眩光测试分析系统
测试UGR 针对室内室外眩光值
GR 针对体育场、球场眩光值
电控云台180°旋转测量
230万像素面阵CMOS传感器
亮度误差±5%
亮度范围0.001-2000-200000-20000000cd/m2

● 眩光的评价指标是根据照明应用环境测试得出的相关评价算法。本系统能实现室内照明、室内不舒适眩光-UGR的测量。其它算法模型可定制。
 ● 眩光指视野中由于不适宜亮度分布,或在空间或时间上存在的亮度对比度,以致引起视觉不舒适和降低物体可见度的视觉条件。 
   本系统针对室内照明、照明现场眩光进行测量评价。满足CIE 115、GB/T 5700、GB 50034-2013、JGJ/T163-2008等标准要求。 

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