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光谱辐射亮度计在低亮度下也能快速测量

  • 发布日期:2021-06-23      浏览次数:164
    •   随着高清电视时代的全面开启,为了更好地还原明亮、明亮、高分辨率的图像,一些更高质量的全高清显示设备的开发也在加速推进。目前先进的技术可以达到100,000:1的对比度,画面会给你更真实的体验。由于需要可以测量低亮度的仪器,因此在再现一些“比黑色更暗”的图像时存在技术瓶颈。此外,一些其他类型的发光元件也在迅速发展。例如,有机电致发光与传统的LCD和PDP显示器一样,​​需要更高精度的光谱辐射曲线分析。光谱辐射亮度计的极低亮度测量达到了很高的水平,低为0.003cd/m2,最高测量对比度可达100,000:1。
        光谱辐射亮度计采用独特的双CCD探测器技术,一次采样即可获得平面上百万点的亮度值,并能准确测量瞄准点的光谱和颜色信息。以其优异的性能,广泛应用于路面、景观、仪表盘及指示灯、背光源、显示器、光源及发光器件、影视、交通信号标志、建筑、大气光度等亮度领域均匀度、色度参数测试。
       

      光谱辐射亮度计

       

        光谱辐射亮度计由视场光阑、孔径光阑、滤光片、陷波探测器和高精度I/V转换器组成。特别是陷阱探测器采用三个硅光电二极管按一定结构排列,入射光在其中可以多次反射和吸收,以减少单片硅光电二极管的表面反射率对测量精度的影响。三片式结构还可以降低单个器件对辐射的偏振敏感度,从而最大限度地降低由此引起的辐射测量的不确定度,本实用新型可以实现对光源的高精度检测,不确定度小于1%。
        1、即使在低亮度下也能保证快速测量
        仪器独特的设计完全消除了机械和电路噪声,即使在低亮度下也能进行快速、可重复的测量。
        2、偏振误差低
        使用反射式衍射光栅引起的偏振误差降低到仅2%。这保证了液晶显示器等使用偏光片的显示设备测量数据的稳定性。
        3、只有5nm半波宽
        仪器只有5nm半波宽,满足色度测量要求,保证在整个可见光波长范围内的色度精确测量。
        4、可选择的测量角度可以测量非常小的区域。
        可以根据您不同的应用对象选择不同的光学测量角度。
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